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摘要:
ΔⅠ噪声是电子电路设计过程中经常遇到的问题,它不但影响同一集成芯片其他门电路的正常工作,还会影响其他集成芯片的正常工作.本文主要论述ΔⅠ噪声的产生机理、危害性和抑制方法.
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文献信息
篇名 ΔⅠ噪声的抑制方法
来源期刊 安全与电磁兼容 学科 工学
关键词 ΔⅠ噪声 耦合 去耦电容
年,卷(期) 2003,(1) 所属期刊栏目 电磁干扰抑制技术
研究方向 页码范围 10-11
页数 2页 分类号 TN4
字数 2366字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9776.2003.01.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赖建光 1 0 0.0 0.0
2 林超文 1 0 0.0 0.0
3 练平 1 0 0.0 0.0
传播情况
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2003(0)
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研究主题发展历程
节点文献
ΔⅠ噪声
耦合
去耦电容
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
安全与电磁兼容
双月刊
1005-9776
11-3452/TM
大16开
北京市亦庄经济技术开发区同济南路8号
82-295
1989
chi
出版文献量(篇)
2498
总下载数(次)
14
总被引数(次)
4963
论文1v1指导