对PDP障壁的高精度检验分析

• 作者: 章爱民 顾智企
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 等离子体显示板 障壁 检验 高精度
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 40-43
• 页数: 4页
• 分类号: TN873.94|TN141.5
• 字数: 3143字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2003.01.010

摘要

PDP中的障壁是决定显示板着火电压和亮度等主要光电参数的重要部件,在制作过程中加强障壁半成品检验,对提高显示板成品率和降低成本具有重要意义.本文介绍障壁的光阻挡立体检验方法系基于经典的光反射原理加之现代的图像处理技术而成,辅以一系列提高检验精度的措施后,对障壁外形检验精度可达±1μm,还可实现快速检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	顾智企	浙江大学信息显示研究所	21	35	4.0	5.0
2	章爱民	浙江大学信息显示研究所	1	3	1.0	1.0