能量色散X射线探针技术对汝瓷成分的线扫描分析

• 作者: 冯敏 孙新民 朱剑 李德卉 杨益民 梁宝鎏 毛振伟 王昌燧 郭木森
• 来源期刊: 中国科学B辑
• 学科: 化学
• 关键词: EDXRF探针 汝瓷 线扫描分析 中间层
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 页码范围: 340-346
• 页数: 7页
• 分类号: O6
• 字数: 3142字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1006-9240.2003.04.010

摘要

用能量色散X射线探针技术对汝瓷残片的剖面从釉到胎进行了主要成分含量的线扫描分析, 结果表明: 在釉胎之间的确存在一个中间层, 在这中间层各元素从釉的含量变化到胎的含量, 而且这种变化是连续的, 每个元素含量变化的起点与终点略有不同, 变化曲线也不一样. 这是在汝瓷烧制过程中, 瓷釉在形成玻璃态的同时渗入了瓷胎表面而形成的, 这与在实体光学显微镜上能明显看出而在偏光显微镜和扫描电子显微镜下看不到此中间层的情况相符合.