能量色散型X荧光光谱仪测定银锡合金中的锡、铋、铜含量

• 作者: 廖思远 颜君波 甘启达
• 来源期刊: 电工材料
• 关键词: 能量色散型X射线荧光光谱仪 银锡合金 Sn Bi Cu
• 年，卷（期）: 2023,（6）
• 所属期刊栏目: 研究·分析
• 页码范围: 12-15
• 页数: 3页
• 分类号: TG115
• 语种: 中文
• DOI: 10.16786/j.cnki.1671-8887.eem.2022.06.003

摘要

使用能量色散型X射线荧光光谱仪测试银锡合金中的3个元素（Sn、Bi、Cu），针对银锡合金中各元素的含量范围使用自制的标准样品绘制工作曲线。对制样方法、测试时间、准直器大小、样品粗糙度、分析谱线等影响因素进行了试验，确定了最佳分析条件，该方法可无损、快速、准确测量样品，极大地提高了检测效率，降低了检测成本。