激光（二极管）起爆系统的光内置式检测（BIT）

• 作者: JosephE．Carvalho Wm．DavidFahty 叶欣
• 来源期刊: 火工情报
• 学科: 工学
• 关键词: 激光二极管 激光起爆系统 光内置式检测 BIT 发火裕度 系统偏差
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 147-156
• 页数: 10页
• 分类号: TD235.12

摘要

在一些复杂装置中，人们通常会选用采用了激光二极管的激光起爆系统，这些复杂装置往往会对起爆系统有高可靠性、高安全性、重量轻、体积小、多点输出以及系统通用性好等要求，而且成本要低于以前的高电压系统。采用了激光二极管的激光起爆系统，具备了上面要求的全部特性，新一代系统还增加了高水平的光内置式检测(BIT，Built-in-Test)功能，用来对系统的性能进行验证。本文对作用到激光二极管起爆系统上的发火裕度(firing margin)作了定义，对不同光BIT方法的优缺点作了介绍，说明了不同的方法从不同的方面对系统发火裕度给予的保障。本文作者想要介绍给大家的，是能够确保激光起爆系统具有最大发火裕度的方法。文章对采用的光BIT方法作了附图说明，并提供了几种不同的光BIT方法计算上的系统偏差(computed system variance)。