ICP-AES法测定氧化铟-氧化锡(ITO)超细复合粉末中的痕量杂质

• 作者: 孙洪涛 王晓艳 邓培
• 来源期刊: 宁夏工程技术
• 学科: 化学
• 关键词: 电感耦合等离子体-原子发射光谱法 铟锡氧化物 复合粉末 痕量杂质
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 232-234
• 页数: 3页
• 分类号: O657.31
• 字数: 1389字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7244.2003.03.012

摘要

建立了超细In2O3-SnO2(ITO)复合粉末中Al, Ca,Cd,Co,Cr,Cu,Fe,Mg,Mn,Mo,Ni,Ti,V,Zn,Zr等15种杂质元素的ICP-AES测定方法.研究了基体对被测元素的干扰,选择了仪器最佳工作参数.方法的回收率为92%～110%,相对标准偏差为0.26%～3.66%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙洪涛		19	43	4.0	6.0
2	邓培		4	55	4.0	4.0
3	王晓艳		2	17	2.0	2.0