电路污染对导弹引信系统贮存失效的影响

• 作者: 王国华 王宇翔
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电路污染 引信系统 电离作用 热解作用 还原
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性设计与工艺控制
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TJ430.6+7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.01.004

摘要

通过对导弹引信系统生产、操作过程中的直接污染及贮存环境效应带来的间接污染进行分析,探讨了导弹引信系统长期贮存的失效机理,并在此基础上,提出了降低引信系统电路污染影响的若干措施,对引信系统设计、生产和使用具有重要的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宇翔		2	10	2.0	2.0
2	王国华		2	10	2.0	2.0