电路污染对电子设备贮存失效的影响及措施

• 作者: 王宇翔
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电路污染 电子设备 电离作用 热解作用 还原
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性设计与工艺控制
• 页码范围: 23-25
• 分类号: TN702
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2011.03.006

摘要

通过对电子设备生产、操作过程中的直接污染及贮存环境效应所带来的间接污染等情况进行分析,探讨了电子设备长期贮存所造成的失效机理:并在此基础上,提出了降低电子设备电路污染影响的若干措施,对电子设备设计、生产和使用具有重要的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宇翔		3	12	2.0	3.0