某星载电子设备混频器振动试验失效分析

• 作者: 程国辉 金大元
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 星载设备 混频器 随机振动 失效分析 改进措施
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 21-25
• 页数: 5页
• 分类号: V443|TB24
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2016.01.005

摘要

某星载电子设备在静态测试时工作正常,但在进行随机振动试验时出现了整机增益降低、中频输出损耗增大的故障,经检查发现其中的混频器失效.针对混频器的失效问题,对故障原因进行查找、分析,最终确认了故障出现的原因,并进行了相应的改进.改进后的器件顺利地通过了振动试验验证,从而证实了分析与改进措施的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金大元	中国电子科技集团公司第三十六研究所	7	27	2.0	5.0
2	程国辉	中国电子科技集团公司第三十六研究所	2	2	1.0	1.0