基于加速退化的电子设备可靠性分析

• 作者: 袁立峰
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 退化 失效 加速 可靠性分析
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 38-41
• 页数: 4页
• 分类号: O213.2|O212
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.03.009

摘要

提出了电子设备在退化状态下的可靠性分析问题,通过建立电子设备退化失效模型与失效阈值,解决了有正常退化数据的电子设备可靠性问题.在此基础上,研究了加速退化时的电子设备退化问题,利用加速试验来分析电子设备在非加速状态下的退化失效,从而解决了非加速状态时退化数据不足以进行可靠性分析的问题.最后,给出了计算实例.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁立峰		2	10	2.0	2.0