故障树分析法在电子设备抗电磁脉冲可靠性分析中的应用

• 作者: 孙继银 柴焱杰 王波 陶灵姣 高晶
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 故障树 电子设备 可靠性 重要度
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 页码范围: 153-155,161
• 页数: 4页
• 分类号: TP206.3
• 语种: 中文

摘要

应用故障树分析法,对电子设备抗电磁脉冲效应的可靠性进行了分析,建立了电子设备的简化故障树模型,在此基础上计算了电子设备在电磁脉冲作用下的可靠性参数,并讨论了各部件的概率重要度和关键重要度,结合所建的故障树给出了相应的计算结果,通过重要度分析,找到了提高电子设备可靠性的途径.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙继银		87	711	15.0	22.0
2	柴焱杰		12	89	5.0	9.0
3	陶灵姣		10	43	3.0	6.0
4	高晶		19	198	6.0	14.0
5	王波		6	27	3.0	5.0