电子设备的可靠性统计试验方法研究

• 作者: 白宏光 葛红宇
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电子设备 可靠性统计 试验方法
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境试验技术及评价
• 页码范围: 40-43
• 页数: 4页
• 分类号: TB114
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2008.03.011

摘要

可靠性试验是可靠性工程的一个重要组成部分,已成为验证电子设备可靠性指标的必要手段.以某电子设备为例,对电子设备的可靠性统计试验方法进行了研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	白宏光		4	34	3.0	4.0
2	葛红宇		1	10	1.0	1.0