采用虚拟样本加速退化试验的复杂电子设备可靠性评估

• 作者: 刘瑞峰 孙际哲 徐宇亮 范浩 陈西宏
• 来源期刊: 西安交通大学学报
• 关键词: 复杂电子设备 加速退化试验 可靠性评估 退化模型 虚拟样本
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 页码范围: 79-84
• 页数: 6页
• 分类号: TP277|V442
• 语种: 中文
• DOI: 10.7652/xjtuxb201306014

摘要

对复杂电子设备进行可靠性评估时,针对退化特征量难以确定和试验样本数目有限这两方面的困难,提出了一种基于虚拟样本加速退化试验(ADT)的电子设备可靠性评估新方法.将相对贴近度的概念引入到退化监测数据的处理中,以相对贴近度为退化特征量,并对原始样本进行虚拟增广,同时对增广样本数据加以修正处理,从而形成电子设备各应力下的退化轨迹.将该方法与传统的可靠性预测方法相结合,有效地解决了加速退化试验中极少样本数据的处理问题.实例分析表明:电子设备的预测寿命与出厂时标定使用寿命的误差为5.93％,86.27％的样品设备使用寿命超过9 a,说明该方法可行、有效,并大大提高了试验的效费比.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈西宏	空军工程大学防空反导学院	140	621	11.0	16.0
2	孙际哲	空军工程大学防空反导学院	21	172	8.0	12.0
3	刘瑞峰	空军装备研究院防空所	4	9	2.0	3.0
4	范浩	空军装备研究院防空所	2	7	1.0	2.0