一种电子设备贝叶斯可靠性评估的新方法

• 作者: 尹宗润 李俊山 苏东
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 电子设备 贝叶斯方法 可靠性评估 寿命分布
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 页码范围: 107-110
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.3
• 语种: 中文

摘要

针对贝叶斯方法应用中后验参数的运算复杂性问题，提出了一种电子设备贝叶斯可靠性评估的新方法。基于工程实践中常见的先验信息建立失效率先验分布，通过随机采样构建设备寿命分布参数的离散联合先验分布，结合截尾试验数据，再通过二次随机采样得到分布参数的离散联合后验分布函数。通过实例给出了运算过程，并与其它贝叶斯运算方法进行了比较。结果表明，此方法在确保精度的同时可以大大简化计算过程，在电子设备可靠性评估中有较高的应用价值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李俊山		136	1222	15.0	29.0