基于米勒定律的机载电子设备可靠性研究

• 作者: 刘治虎 张巧凤 杨龙 醋强一
• 来源期刊: 航空计算技术
• 关键词: 电子设备 米勒定律 可靠性 振动 温度冲击
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 计算机应用
• 页码范围: 116-119
• 页数: 4页
• 分类号: TP331
• 语种: 中文

摘要

机载电子设备在其寿命周期内要经受各种严酷环境的考验,每种恶劣环境都会对其疲劳寿命造成损伤.米勒定律在电子设备可靠性评估中得到诸多应用,以其为基础,分析振动及温度冲击环境对电子设备的结构件及元器件寿命的影响,对电子设备可靠性进行了评估.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张巧凤		5	7	2.0	2.0
2	杨龙		2	3	1.0	1.0
3	醋强一		3	3	1.0	1.0
4	刘治虎		2	2	1.0	1.0