电子设备可靠性增长试验方法及应用研究

• 作者: 朱永
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电子设备 可靠性增长 试验研究
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 页码范围: 17-22
• 页数: 6页
• 分类号: TB114.37|TB24
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2015.03.004

摘要

可靠性增长试验是对产品的可靠性进行调查、分析和评价的一种手段，对于可靠性要求高、产品子样少或价格昂贵的产品的可靠性增长和评价具有良好的实施效果。针对目前电子设备可靠性增长试验中的薄弱环节，对可靠性增长试验的关键技术进行了研究，阐述了电子设备如何制定可靠性增长试验的方案及程序，介绍了电子设备可靠性增长试验的制定原则和试验方法，并针对某型雷达可靠性增长试验给出设计和应用实例。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱永	中国电子科技集团公司第三十八研究所	2	10	2.0	2.0