电子设备元器件的防霉变技术

• 作者: 王宇翔
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 元器件 贮存 霉菌 防护
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 综述与展望
• 页码范围: 29-32
• 页数: 4页
• 分类号: TN60
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.02.007

摘要

论述了电子设备元器件在贮存使用现场存在各种霉菌的真实情况,详细地分析了霉菌的特点及其危害;根据产品的霉变机理和国内外的实践经验,全面总结了预防霉菌的各项措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宇翔		3	12	2.0	3.0