电子元器件工艺控制技术探讨

• 作者: 彭苏娥
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电子元器件 工艺因素 失效分析 质量 可靠性 工艺控制
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 可靠性设计与工艺控制
• 页码范围: 32-36
• 页数: 5页
• 分类号: TN61/65|O213.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2002.06.009

摘要

介绍了进行电子元器件工艺控制时应满足的基本条件和主要步骤,并以电容器、集成电路为例,介绍了如何通过分析关键工艺因素与产品主要失效模式的相关性,实施有针对性的工艺控制,以便在产品生产过程中实施有效的工艺控制,稳定地提高产品的质量和可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭苏娥		6	36	3.0	6.0