密封电子元器件内部水汽含量问题探讨

• 作者: 徐爱斌
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 密封电子元器件 内部水汽含量 达标
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 26-28
• 页数: 3页
• 分类号: TN61/65|O659
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2002.06.007

摘要

提出了国产密封电子元器件封装内部水汽含量高的问题,阐述了内部水汽对元器件性能与可靠性的影响,探讨了降低内部水汽含量的主要技术途径.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐爱斌		9	40	4.0	6.0