电子元器件可靠性增长的分析技术

• 作者: 黄云
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 元器件 可靠性增长 分析技术
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 综述与展望
• 页码范围: 13-17
• 页数: 5页
• 分类号: TN61/65
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2004.03.003

摘要

从元器件可靠性物理分析技术角度,系统地阐述了失效信息的收集与分析、失效分析、破坏性物理分析、密封器件内部气氛分析、失效模式及机理与工艺的相关性分析、失效模式与影响分析等元器件的质量与可靠性分析技术.将元器件质量与可靠性分析技术融入元器件产品设计、制造过程是实现元器件可靠性增长的必然趋势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄云		21	234	10.0	14.0