电子元器件的贮存可靠性及评价技术

• 作者: 恩云飞 杨丹 黄云
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 贮存可靠性 长期自然贮存 极限应力试验 加速贮存寿命试验
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析
• 页码范围: 71-74
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.3|TB24
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2005.z1.018

摘要

贮存可靠性是元器件可靠性研究的重要方面.阐述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	恩云飞	信息产业部电子第五研究所可靠性研究分析中心	37	304	10.0	14.0
2	黄云	信息产业部电子第五研究所可靠性研究分析中心	21	234	10.0	14.0
3	杨丹	信息产业部电子第五研究所可靠性研究分析中心	7	88	6.0	7.0