电子元器件的失效模型与可靠性试验方法浅析

• 作者: 张必超 戴柏林 王志刚
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 失效模型 环境试验 可靠性试验
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 页码范围: 33-38
• 页数: 6页
• 分类号: TN3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.006

摘要

本文介绍了电子元器件的失效类型、失效模型,并从元器件失效模型的角度简要分析了电子设备环境试验与可靠性试验的理论依据及原理.