国外电子元器件可靠性试验情报跟踪

• 作者: 蔡少英
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电子元器件 可靠性试验 集成电路测试 试验技术
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 所属期刊栏目: 电子技术信息研究
• 页码范围: 189-192
• 页数: 4页
• 分类号: TN306|TN406
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2005.z1.051

摘要

跟踪研究了近年来国外在电子元器件可靠性试验方面的发展现状与趋势,主要包括集成电路新的试验方法;大规模集成电路测试方面存在的问题和未来的发展方向;裸芯片可靠性试验技术的发展;MEMS新技术的可靠性发展现状等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡少英	信息产业部电子第五研究所赛宝信息研究中心	7	30	3.0	5.0