国内外电子元器件质量等级体系研究

• 作者: 周军连 聂国健 郑丽香
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 元器件 质量等级 生产保证 可靠性预计
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 质量管理与产品认证
• 页码范围: 1-8
• 页数: 8页
• 分类号: TB114.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2008.05.001

摘要

质量等级是电子元器件设计选择、采购验收、筛选和检验的重要依据,是影响元器件使用可靠性的重要因素之一.全面、深入地剖析了国内外电子元器件生产保证与可靠性预计的两种质量等级体系,给出了国内外详细的质量等级标识及对应关系,并对当今使用中存在的常见误区进行了更正说明.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	聂国健		14	47	3.0	6.0
2	郑丽香		17	69	4.0	8.0
3	周军连		11	47	3.0	6.0