电路设计中元器件的使用可靠性

• 作者: 王殿超 郑学仁
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 元器件 使用可靠性 失效
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性设计与工艺控制
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: TM5|TN303
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2007.05.003

摘要

元器件的使用可靠性是整机可靠性的关键和基础.结合工作实践,对电路设计中元器件的使用可靠性、失效原因进行了分析、总结,并提出了提高电子元器件应用可靠性的建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑学仁	华南理工大学物理科学与技术学院	72	463	12.0	17.0
2	王殿超	华南理工大学物理科学与技术学院	2	11	2.0	2.0