高功率激光二极管的可靠性研究

• 作者: 刘云 吴东江 王乐 王立军
• 来源期刊: 吉林大学学报(信息科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 激光二极管 可靠性 暗线损伤 光学灾变损伤
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 电子科学与工程
• 页码范围: 212-215
• 页数: 4页
• 分类号: TN248.2
• 字数: 1521字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-5896.2003.03.002

摘要

在使用综合参数测试仪测试半导体量子阱激光器的过程中,通过测试的功率曲线和伏安特性,断定激光器受到损伤,由扫描电镜(SEM:Scaning Electron Microscopy)观察到激光器的腔面出现了熔化,证实激光器性能的改变是由于产生了暗线缺陷(DLD:Dark Line Difect)和灾变性光损伤(COD:C atastrophic Optical Damage),通过分析,了解到激光器的退化主要是由器件本身的材料、结构以及后期的工艺过程所决定的,在测试器件过程中电浪涌会加速或产生突然灾变性退化,最后给出了用隔离及无吸收窗口来减少损伤的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王立军	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	131	1339	19.0	31.0
2	刘云	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	99	706	15.0	23.0
3	王乐	吉林大学电子科学与工程学院	26	122	6.0	10.0
7	吴东江	吉林大学物理学院	3	9	2.0	3.0