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电子产品可靠性与环境试验期刊
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可靠性强化试验应力剖面的研究
可靠性强化试验应力剖面的研究
作者:
朱文献
陈循
陶俊勇
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
可靠性强化试验
应力剖面
温度循环
随机振动
温振综合
摘要:
分别对可靠性强化试验中的温度循环、随机振动以及温度振动综合试验剖面中的应力类型的选择、各种应力量级的确定、施加的先后顺序等进行了研究.并阐述了温度振动综合试验应力剖面的合成及优化原则.
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文献信息
篇名
可靠性强化试验应力剖面的研究
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
可靠性强化试验
应力剖面
温度循环
随机振动
温振综合
年,卷(期)
2003,(1)
所属期刊栏目
可靠性与环境试验技术及评价
研究方向
页码范围
46-50
页数
5页
分类号
TB24
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2003.01.012
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
陈循
国防科技大学机电工程与自动化学院
88
1849
26.0
40.0
2
陶俊勇
国防科技大学机电工程与自动化学院
42
705
15.0
26.0
3
朱文献
国防科技大学机电工程与自动化学院
3
27
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节点文献
可靠性强化试验
应力剖面
温度循环
随机振动
温振综合
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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