用高阶矩谱表征粗糙表面的偏斜程度

• 作者: 李成贵
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 表面粗糙度 双谱 参数表征 矩谱 偏斜度
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 页码范围: 279-282,347
• 页数: 5页
• 分类号: TB92
• 字数: 2394字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1158.2003.04.006

摘要

基于双谱分析理论,结合表面粗糙度偏斜度参数的定义,提出了偏斜度函数的表达方式,以及二维双谱的对角线切片算法,并将它们用于三维粗糙工程表面的偏斜度描述.文中还对具有对称、正偏态和负偏态分布特征的电火花、精密车削和研磨加工试件进行了实验研究,认为双谱和偏斜度函数可以合理有效地描述三维粗糙表面偏离高斯分布的程度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李成贵	北京航空航天大学自动化学院测控系	91	890	16.0	25.0