LED光色电综合性能分析测试原理与仪器

• 作者: 潘建根
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: LED 快速测量 CIE标准条件
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 138-140
• 页数: 3页
• 分类号: TN312.8|TN874
• 字数: 1805字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2003.02.014

摘要

光色电综合性能参数是LED的主要技术指标,LED光色电综合性能的准确快速测量,对LED研发、制造和品质具有重要意义.本文介绍了LED光色电综合性能分析测试原理和仪器的主要技术指标,仪器满足CIE推荐标准条件.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘建根		23	192	7.0	13.0