电刺激小脑顶核对脑缺血再灌注氧化损伤作用的实验研究

• 作者: 关永林 杨永清 石正洪 董为伟
• 来源期刊: 兰州大学学报(自然科学版)
• 学科: 生物学
• 关键词: 缺血再灌注损伤 诱生型环氧化酶 丙二醛 小脑顶核 电刺激
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 74-76
• 页数: 3页
• 分类号: Q189
• 字数: 2302字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0455-2059.2003.01.016

摘要

探讨电刺激小脑顶核(FNs)对局部脑缺血再灌注氧化损伤作用的影响.以线栓法制成大鼠右侧大脑中动脉缺血再灌注模型,随机分为假手术对照组、缺血再灌注(I/R)组、缺血再灌加电刺激小脑顶核组(I/R+FNs干预组),免疫组化法检测诱生型环氧化酶(COX-2)表达,用硫代巴比妥酸法检测MDA含量.I/R组COX-2蛋白在半暗带呈强阳性表达,MDA含量明显升高,经电刺激小脑顶核后COX-2呈弱表达,MDA含量下降,有统计学差异.电刺激小脑顶核对脑缺血/再灌注后的氧化损伤具有拮抗作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董为伟	重庆医科大学第一附属医院神经内科	190	2189	23.0	37.0
2	石正洪	重庆医科大学第一附属医院神经内科	3	61	3.0	3.0
3	杨永清	兰州医学院第二附属医院神经内科	1	6	1.0	1.0
4	关永林	解放军四七三医院骨科	1	6	1.0	1.0