伪彩色数字高程模型在工业CT断层图像检查中的应用

• 作者: 康克军 张丽 肖永顺 陈志强
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 数字高程模型 伪彩色 CT断层图像 图像处理 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 页码范围: 147-150
• 页数: 4页
• 分类号: TL8
• 字数: 3106字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2003.02.014

摘要

在工业CT断层图像缺陷检测应用中,提出了将数字高程模型DEM与伪彩色技术一起应用于二维灰度图像缺陷检测领域的算法流程.应用该算法流程,能够充分利用CT断层灰度图像信息,获得清晰的视觉检查效果,从而大大增强了系统检测缺陷的能力.在大型工业CT图像重建与检查分系统中采用该算法流程已经取得了较为理想的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈志强	清华大学工程物理系	124	1202	18.0	29.0
2	张丽	清华大学工程物理系	123	1363	19.0	31.0
3	康克军	清华大学工程物理系	79	661	12.0	23.0
4	肖永顺	清华大学工程物理系	17	74	4.0	8.0