基于图像获取技术的发射度测量方法研究

• 作者: 刘建 赵晓岩 郑建华
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 多孔屏 图像获取卡 数据处理
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 页码范围: 590-592
• 页数: 3页
• 分类号: TL503.6
• 字数: 2215字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2003.06.028

摘要

介绍了HIRFL上利用荧光靶图像获取装置构成多孔屏束流发射度测量系统,对测量数据的处理、光斑面积、周长和束流发射度的计算方法做了重点介绍,该系统具有可靠性好、测量直观、界面友好等优点.