X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质含量

• 作者: 吴志华 李友元 罗湘宁
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光 压片 熔融 氧化铝 杂质
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 工作简报
• 页码范围: 43-46
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2524字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2003.05.013

摘要

对X射线荧光光谱测定氧化铝中杂质元素的方法进行了研究.利用系列标准样品制作工作曲线,采用混合熔剂四硼酸锂加偏硼酸锂(12+22)熔融制样法分析了SiO2,Fe2O3,Na2O,制备熔片的稀释比为1∶3;直接压片制样法分析了TiO2,V2O5,P2O5,ZnO.SiO2,Fe2O3,Na2O,TiO2,V2O5,P2O5,ZnO测定结果的RSD分别为2.61%,2.61%,2.33%,4.62%,8.24%,8.00%和1.79%.该方法用于氧化铝生产控制及产品分析,数据准确、可靠,结果令人满意.