测试方法的揭错能力及其对软件可靠性的影响

• 作者: 陈翔宇 马丰宁
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 揭错能力 随机测试 选择性测试 静态测试 动态测试 软件可靠性
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 微机软件
• 页码范围: 44-47,52
• 页数: 5页
• 分类号: TP3
• 字数: 5751字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2003.01.014

摘要

测试方法的划分角度不同,评价其优劣的准则也就不同.本文比较了在不同揭错能力标准下,不同测试方法发现错误的能力,以及特定情况下软件可靠性的评估.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马丰宁	天津大学管理学院	18	189	9.0	13.0
2	陈翔宇	天津大学管理学院	5	38	4.0	5.0