封接用钼箔带材表面质量研究

• 作者: 吴晓惠 左羽飞
• 来源期刊: 中国钼业
• 学科: 工学
• 关键词: 表面 封接 粗糙度
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 加工
• 页码范围: 51-52
• 页数: 2页
• 分类号: TG339
• 字数: 1597字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2602.2003.02.014

摘要

主要阐述电子行业中电真空管、电气密管,用封接材料钼翼形带腐蚀前后粗糙度的变化,及其对封接性能的影响.经过电腐蚀钼翼形带的粗糙度增加,边部粗糙度小于中部.稀土钼带的粗糙度大于纯钼带的粗糙度.翼形带表面粗糙度对封接性能有很大的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	左羽飞	金堆城钼业公司技术中心	5	10	2.0	3.0
2	吴晓惠	金堆城钼业公司技术中心	3	41	2.0	3.0