考虑配件合格率和耗损的库存控制模型及算法

• 作者: 张正祥 牛芳
• 来源期刊: 工业工程与管理
• 学科: 经济
• 关键词: 库存控制 计算方法 配件 数量模型
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 理论、方法与应用
• 页码范围: 38-41
• 页数: 4页
• 分类号: F253.4
• 字数: 3798字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5429.2003.02.010

摘要

由于生产的产品数量由所有配件能够生产的最小批量决定,因此在确定配件的订购批量时,必须将各种配件联系在一起综合考虑.本文的研究考虑了两种配件质量和生产耗损的情况,假设单个配件质量和生产中耗损满足一定的概率分布,描述了多个配件"成功"完成生产过程数量的概率分布和批量满足率函数,建立了一个保证一定批量满足率下成本最低的数量模型,并且分析了模型最优解的性质,指出最优解必然是限制条件的边界点,最后基于最优解的性质给出了求取模型最优解的搜索算法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张正祥	西安交通大学管理学院	13	374	9.0	13.0
2	牛芳	西安交通大学管理学院	7	283	5.0	7.0