通讯产品的可靠性指标现状与分析

• 作者: 张予倩 张学渊
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 平均故障间隔时间 可靠性指标 通讯
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性论坛与通信
• 页码范围: 69-75
• 页数: 7页
• 分类号: TN801
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.03.016

摘要

通过对几大通讯设备的可靠性指标分析，使人们对通讯产品可靠性有一个全面、客观的认识。过高的可靠性指标是否可信?希望引起同行的重视。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张予倩	南京大学物理系	16	39	4.0	6.0
2	张学渊	中兴通讯股份有限公司上海第一研究所	6	11	2.0	3.0