原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
介绍了保障可靠性指标的设计技术、电磁兼容设计技术、热设计技术、耐环境设计技术和软件可靠性设计技术等在电子通讯设备中的应用。
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文献信息
篇名 电子通讯设备的可靠性设计技术探讨
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 可靠性设计 可靠性指标 电磁兼容 热设计 软件可靠性
年,卷(期) 2003,(3) 所属期刊栏目 可靠性设计与工艺控制
研究方向 页码范围 13-19
页数 7页 分类号 TB114.3
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.03.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王三红 深圳市中兴通讯股份有限公司西安研究所 2 12 2.0 2.0
2 郭琳 深圳市中兴通讯股份有限公司西安研究所 1 10 1.0 1.0
3 张军琴 深圳市中兴通讯股份有限公司西安研究所 1 10 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
可靠性设计
可靠性指标
电磁兼容
热设计
软件可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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