电子设备可靠性设计中器件的失效评估

• 作者: 史荣
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 可靠性设计 可靠性分析 失效 评估
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 页码范围: 155-158
• 页数: 4页
• 分类号: TN3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.034

摘要

本文主要针对设备可靠性设计中的器件失效问题展开讨论,对器件在工作中失效性进行了评估,通过失效评估为后期的设计工作打下了基石,提高了整机的性能指标.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	史荣		5	5	2.0	2.0