测试系统中干扰及其形成机理

• 作者: 刘文彦 瞿曌 邓新中
• 来源期刊: 自动化仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 测试系统 干扰 干扰源 形成机理
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 所属期刊栏目: 科研与开发
• 页码范围: 20-23
• 页数: 4页
• 分类号: TM93
• 字数: 3032字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0380.2003.06.007

摘要

介绍了测试系统中的各类干扰源.对来自系统外部的自然干扰、放电干扰、工频干扰、射频干扰、静电干扰及来自系统内部的电源干扰、地线干扰、信号通道的耦合干扰等的产生原因作了较详细的分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	瞿曌	长沙大学电子技术与应用物理系	80	624	15.0	20.0
2	刘文彦	长沙大学电子技术与应用物理系	22	164	8.0	12.0
3	邓新中	长沙大学电子技术与应用物理系	11	75	4.0	8.0