欠掺杂双层铜氧化物的输运性质

• 作者: 冯世平 秦吉红 袁峰
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2003,（z2）
• 页码范围: 567-571
• 页数: 5页
• 分类号: TM26
• 字数: 3171字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2003.z2.053

摘要

本文在t-J模型下,应用fermion-spin理论 ,研究了双层掺杂铜氧化物材料的输运性质.结果表明,双层铜氧化物材料输运性质与单层定性相同:光电导显示出低能峰和反常中红外带,随着温度升高,中红外带被强烈压制;非常欠掺杂区域的电阻显示出从高温时金属行为到低温时绝缘体行为的转变.这些都与实验结果定性相符.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯世平	北京师范大学物理系	8	2	1.0	1.0
2	袁峰	北京师范大学物理系	2	1	1.0	1.0
3	秦吉红	北京师范大学物理系	2	1	1.0	1.0