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摘要:
用光致发光激发光(PLE)谱与光吸收谱和光致发光(PL)谱相结合,对半导体CdSeS量子点的电子能级和电子跃迁发光的弛豫过程进行了深入分析.PLE谱表明带边激子发光的主要来源是1S3/2-1se和2S3/2-1se能态的电子弛豫,而缺陷态发光的来源除了1S3/2-1se和2S3/2-1se能态的电子弛豫外,还有更高能态的电子弛豫.
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文献信息
篇名 玻璃中CdSeS量子点的PLE谱研究
来源期刊 北京师范大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 半导体量子点 光致发光激发光谱 光致发光谱 光吸收谱 CdSeS
年,卷(期) 2003,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 636-639
页数 4页 分类号 O484.1
字数 2482字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0476-0301.2003.05.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 田强 北京师范大学物理学系 81 389 11.0 16.0
2 吴正龙 北京师范大学分析测试中心 41 276 7.0 15.0
3 刘炳灿 北京师范大学物理学系 14 25 4.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
半导体量子点
光致发光激发光谱
光致发光谱
光吸收谱
CdSeS
研究起点
研究来源
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期刊影响力
北京师范大学学报(自然科学版)
双月刊
0476-0301
11-1991/N
大16开
北京新外大街19号
82-406
1956
chi
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