ICP-MS法测定超细银粉中十二种杂质元素的研究

• 作者: 姜玉梅 易永 章新泉 苏亚勤
• 来源期刊: 江西化工
• 学科: 化学
• 关键词: ICP-MS 超细银粉 杂质元素
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 140-142
• 页数: 3页
• 分类号: O614.122
• 字数: 987字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-3103.2003.04.038

摘要

用电感耦合等离子于质谱仪(简称ICP-MS)直接测定超细银粉中12种杂质元素,考察了基体效应及接口效应对仪器测定灵敏度的影响.选择适当的待测元素同位素克服了质谱干扰.定量加入内标元素有效校正了基体效应、接口效应及仪器波动等因素而带来的测量偏差.方法的加标回收率为90.0%～110.5%,变异系数CV为0.5%-4.7%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	章新泉		24	237	9.0	14.0
2	易永		23	154	8.0	11.0
3	姜玉梅		22	180	8.0	12.0
4	苏亚勤		16	115	7.0	10.0