高温超导薄膜微波表面电阻测试方法的讨论

• 作者: 张其劭 张映敏 罗正祥 羊恺
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2003,（z2）
• 页码范围: 556-561
• 页数: 6页
• 分类号: TM26
• 字数: 2950字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2003.z2.051

摘要

介绍一种工作在12GHz附近的高温超导薄膜微波表面电阻Rs测试方法,该系统采用低损耗高介电常数的蓝宝石构成工作在TE011+δ谐振模式的介质谐振器,在77K时,利用它可成功地用于单片50.8mm较大超导薄膜的微波表面电阻Rs无损伤测试.并与工作在17GHz附近的用于测试10mm高温超导薄膜微波表面电阻测试方法进行了比较. 这种测试方法提高了整个测试系统的品质因素,体积小,操作方便,且所需实验条件简单,测试灵敏度高,具有简便、快捷、适合于工业化生产检测的特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗正祥	电子科技大学微波测试中心	74	751	14.0	24.0
2	羊恺	电子科技大学微波测试中心	65	331	9.0	14.0
3	张其劭	电子科技大学微波测试中心	32	275	10.0	15.0
4	张映敏	电子科技大学微波测试中心	6	25	3.0	5.0