冒险共振现象及其在CMOS电路最大功耗估计中的应用

• 作者: 徐勇军 李晓维 骆祖莹
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: CMOS VLSI 最大功耗估计 低功耗 冒险共振
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 28-32
• 页数: 5页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2003.05.009

摘要

随着集成电路工艺的不断提高,CMOS电路规模不断增大,功耗成为集成电路设计主要指标之一.文章首先以多位比较器为例,阐述了存在于部分多位电路功能块中的冒险共振现象;然后给出其在VLSI电路最大功耗估计中的应用.ISCAS85电路集实验结果证实了文章思路的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐勇军	中国科学院计算技术研究所信息网络室	47	744	14.0	26.0
2	李晓维	中国科学院计算技术研究所信息网络室	127	1467	20.0	32.0
3	骆祖莹	清华大学计算机科学与技术系	15	106	8.0	9.0