三探测器密度测井的薄层影响及校正

• 作者: 吴文圣
• 来源期刊: 天然气工业
• 关键词: 探测器 地层密度测井 薄层 蒙特卡罗法 校正
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 地质勘探
• 页码范围: 38-40
• 页数: 3页
• 分类号: P61
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0976.2003.03.011

摘要

薄层是影响岩性密度测井的重要因素,而双源距岩性密度测井无法对薄层进行校正.于是,出现了一种三探测器岩性密度测井仪器,这种仪器可以对薄层进行校正并能更准确地求取地层的光电吸收截面系数.研究薄层对密度测井的影响,可以方便确定仪器的记录点,并为后期的数据处理方法研究提供理论基础.文章利用Monte Carlo方法,计算了不同厚度薄层,在纵向位置的变化和不变时,对三个探测器计数的影响,得到了随着低密度薄层位置的移动,探测器计数逐渐增大,达到极大值后又逐渐减小,曲线形状对称;随着高密度薄层位置的移动,探测器计数逐渐减小,达到极小值后又逐渐增大,曲线形状对称;极大值和极小值均出现在源与探测器之间的中点位置;在一定厚度范围内,探测器计数随薄层厚度的增加而增加;当薄层厚度增加到一定程度,探测器计数将不再变化,趋于一个恒定的值.讨论了薄层影响以及泥饼和薄层双重影响的地层密度校正方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴文圣	清华大学工程物理系	6	75	5.0	6.0