真空表面的绝缘特性

• 作者: 谭杰
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 物理学
• 关键词: 绝缘子 真空表面闪络 二次电子发射 稳定条件
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 256-257
• 页数: 2页
• 分类号: O485

摘要

绝缘子的真空表面绝缘特性研究真空下的高压沿绝缘子表面击穿物理过程，称真空表面闪络过程。影响该过程的因素主要包括绝缘材料结构、空间电场分布、表面处理方法、所加电压特征，脉冲宽度等。研究了真空表面闪络过程，有两类理论：二次电子发射崩溃和电子引发极化松弛。SEEA理论以绝缘子表面在电子轰击下发射二次电子为基础，包含了电子诱发脱附和脱附气体离子化，并且对闪络过程产生的影响等过程，对表面闪络现象进行了解释。