借助光栅测谱中高级次谱判断强激光场作用时的有效功率密度

• 作者: 夏元钦 王骐 陈建新
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 激光物理 光栅分光 高级次谱 测试系统
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 测量技术
• 页码范围: 255-258
• 页数: 4页
• 分类号: O437.1
• 字数: 2897字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2003.03.016

摘要

借助在X光波段高次谐波辐射谱测量过程中,根据单色仪光栅分光的作用,产生的23级次(34.56 nm)谐波谱的二级次谱(69.13 nm)的出现与否,判断了实验获得高次谐波谱的截止波长;从而根据高次谐波的理论,判断了强激光场与物质相互作用时,激励产生X光谱的有效功率密度为1.007×1014 W/cm2,此时获得最大光子能量为32.817 eV.它的准确判断和测量是研究实验获得谱线的来源和强度的基础数据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈建新	哈尔滨工业大学光电子技术研究所可调谐激光技术国家级重点实验室	21	118	5.0	10.0
2	王骐	哈尔滨工业大学光电子技术研究所可调谐激光技术国家级重点实验室	256	2059	22.0	32.0
3	夏元钦	哈尔滨工业大学光电子技术研究所可调谐激光技术国家级重点实验室	38	149	7.0	9.0