反射式光耦的CTR工艺控制

• 作者: 王卫东
• 来源期刊: 光电子技术与信息
• 学科: 工学
• 关键词: 光耦 CTR 工艺 芯片 点胶
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与实验
• 页码范围: 21-25
• 页数: 5页
• 分类号: TN305
• 字数: 2342字
• 语种: 中文

摘要

文章介绍了光电耦合器结构及其CTR参数,分析红外发光芯片和光敏接收芯片对光耦CTR值影响,重点讨论了工艺上内点胶操作与CTR的关系,提出了内点胶操作所形成光学通道的椭圆模型理论和各种点胶方式,并用实验进行验证和说明.最后总结出在生产过程中控制CTR值的芯片配对方案和工艺操作方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王卫东		2	5	1.0	2.0