验证包含黑盒的电路设计的有效方法

• 作者: 李光辉 李晓维 邵明
• 来源期刊: 计算机学报
• 学科: 工学
• 关键词: 布尔可满足性 功能验证 黑盒 布尔比较 逻辑模拟
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 所属期刊栏目: 研究论文与技术报告
• 页码范围: 796-802
• 页数: 7页
• 分类号: TP306
• 字数: 6109字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-4164.2004.06.011

摘要

在超大规模集成电路设计中,为了进行早期的设计错误检测与调试或层次化验证,常常需要使用含黑盒的设计验证方法.该文提出了一种结合逻辑模拟和布尔可满足性的黑盒验证方法,用于验证设计中黑盒外部的功能正确性.该方法使用量化的合取范式(CNF)来表示电路中出现的未知约束,并且不需要修改电路结构,有效地节省了计算资源.此外,通过使用随机并行模拟增强了可满足性算法的错误检测能力.通过对ISCAS'85电路的实验表明了该方法不仅比以往同类算法速度快,而且具有较好的错误检测能力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李晓维	中国科学院计算技术研究所	127	1467	20.0	32.0
5	邵明	中国科学院计算技术研究所	36	161	8.0	11.0
9	李光辉	中国科学院计算技术研究所	17	172	9.0	13.0